詳細(xì)摘要： CrossOver CO4080二維雷達(dá)內(nèi)置雙頻天線、數(shù)據(jù)采用無線傳輸，內(nèi)置GPS，支持外接GPS。滿足淺部高精度探測的需求，支持?jǐn)?shù)據(jù)的高速采集。用于管線探測；...

詳細(xì)摘要： CrossOver PLT600二維雷達(dá)小巧輕便、數(shù)據(jù)采用無線傳輸，單天線即可完成傳統(tǒng)兩個天線才能完成的初期支護(hù)和二次襯砌檢測。用于隧道襯砌檢測專用雷達(dá)，隧道初...

詳細(xì)摘要： CrossOver RQT800二維雷達(dá) 路面路基專用雷達(dá)，小巧輕便、數(shù)據(jù)采用無線傳輸，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的高速采集和傳輸

詳細(xì)摘要： Raptor-17三維雷達(dá)采用RTS技術(shù)的三維陣列探地雷達(dá)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的高速采集和傳輸，圖像對目標(biāo)體的還原效果好；可實(shí)現(xiàn)對測區(qū)的全覆蓋探測，定位精度高。通道...

詳細(xì)摘要： Raptor-45三維雷達(dá) 采用RTS技術(shù)的三維陣列探地雷達(dá)系統(tǒng)，圖像對目標(biāo)體的還原效果好；可實(shí)現(xiàn)對測區(qū)的全覆蓋探測，定位精度高。標(biāo)準(zhǔn)手推式配置可達(dá)8通道，標(biāo)準(zhǔn)...

詳細(xì)摘要： Raptor-80三維雷達(dá) 采用RTS技術(shù)的三維陣列探地雷達(dá)系統(tǒng)，圖像對目標(biāo)體的還原效果好； 可實(shí)現(xiàn)對測區(qū)的全覆蓋探測，定位精度高。標(biāo)準(zhǔn)手推式配置可達(dá)12通道，...

詳細(xì)摘要： LREL-4PB獨(dú)立電動四點(diǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)系統(tǒng)是一套獨(dú)立測試系統(tǒng)，其設(shè)計和制造的目的是通過對瀝青混合料梁型試件施加重復(fù)性的四點(diǎn)彎曲荷載，測定瀝青混合料的疲勞壽命。...

詳細(xì)摘要： PDM³打樁分析儀是評估樁身承載力及其完整性可靠的一項(xiàng)技術(shù)。不僅可以用于常規(guī)樁的高應(yīng)變測試，還可以用于挖孔樁、連續(xù)螺旋鉆孔樁、現(xiàn)澆樁或者打入樁的測試。

詳細(xì)摘要： T2318A路測儀（掃頻儀）優(yōu)化分析系統(tǒng)是基于功能強(qiáng)大的全制式掃頻儀和分析軟件的綜合平臺，以掃頻方式自動、高速掃描和解析GSM、 WCDMA、FDD/TDD-L...

詳細(xì)摘要： SK-4500駐波比測試儀是能夠適用于移動通信、國防通信以及廣播工業(yè)等領(lǐng)域的系統(tǒng)安裝、維護(hù)與故障定位的儀表。同時，SK-4500 的應(yīng)用領(lǐng)域覆蓋了線纜生產(chǎn)檢驗(yàn)、...

詳細(xì)摘要： T8260手持式頻譜分析儀將高性能、高便攜性與可操控性的結(jié)合，科學(xué)的工程化設(shè)計，使其具有單手操作的體積和重量，同時具有業(yè)內(nèi)罕見的高靈敏度性能，配合5小時以上工作...

詳細(xì)摘要： T3106手持信號源(Genemini 矢量信號發(fā)生器)將高性能、高便攜性與可操控性地結(jié)合，出色的工程化設(shè)計，使其具有單手操作的體積和重量，其中優(yōu)良的射頻性能和...

詳細(xì)摘要： AML PRO非金屬管道探測儀使?模塊化、超?頻電磁波技術(shù)探測地下物體的密度差異，這是探測PVC和PE管以及其它有邊緣物體的很好的?法。

詳細(xì)摘要： SK-4500-TC手持式天饋線分析儀是能夠適用于移動通信、國防通信以及廣播工業(yè)等領(lǐng)域的系統(tǒng)安裝、維護(hù)與故障定位的儀表。同時，SiteHawk 的應(yīng)用領(lǐng)域覆蓋了...

詳細(xì)摘要： LR/ASSR-300便攜型邊坡穩(wěn)定監(jiān)測雷達(dá)是上海勞瑞儀器設(shè)備有限公司推出的新型圓弧合成孔徑邊坡穩(wěn)定監(jiān)測雷達(dá)系統(tǒng)，基于寬帶連續(xù)波信號體制、差分干涉微波測量和圓弧...

詳細(xì)摘要： T-U2超聲波硬度計具有適用領(lǐng)域廣、測量范圍寬、測試精度高、對被測物表面無損、穩(wěn)定性好、待機(jī)時間長、操作簡便。

詳細(xì)摘要： 657凹坑儀可以快速的實(shí)現(xiàn)樣品預(yù)減薄，同時顯著減少樣品損傷。凹坑研磨是通過快速可靠的研磨來移除材料，使TEM樣品接近電子透明度（有時可以達(dá)到電子透明度），從而顯...

詳細(xì)摘要： PECS II精密刻蝕鍍膜儀是一款桌面型寬束氬離子拋光及鍍膜設(shè)備。一款獨(dú)立、結(jié)構(gòu)緊湊的臺式設(shè)備。采用兩個寬束氬離子源對樣品表面進(jìn)行拋光， 去除損傷層，從而得到高...

詳細(xì)摘要： PIPS II 精密離子減薄儀包含了 WhisperLok®，能對減薄樣品進(jìn)行準(zhǔn)確定位。10英寸觸摸屏簡單易用，提高對減薄區(qū)域的精度控制和減薄過程的可...

詳細(xì)摘要： SWiFT SVP聲速剖面儀設(shè)計的初衷是為了實(shí)現(xiàn)一個無縫的工作流程，采用了測量級傳感器技術(shù)，并標(biāo)配方便的藍(lán)牙連接與可充電鋰電池。