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更新時(shí)間:2023/09/15 09:21:18瀏覽次數(shù):723

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包裝頂空分析服務(wù)
激光法檢漏方法在制藥領(lǐng)域的應(yīng)用廣泛包括:無損殘氧分析、無損真空度測(cè)試、容器密封完整性測(cè)試,產(chǎn)品穩(wěn)定性研究,貨架期研究,滲透性研究等。

詳細(xì)介紹

包裝頂空分析服務(wù)

服務(wù)項(xiàng)目:殘氧、真空度、溶解氧等

包裝類型:西林瓶、安瓿瓶、預(yù)充注射器、泡罩、軟袋等各種包裝形式。

測(cè)試方法:熒光法(有損)、激光法(無損)

激光法:  

       美國Lighthouse--激光法測(cè)試專家,在美國食藥監(jiān)FDA的資助下研發(fā)出激光二極光譜原理FMS系列設(shè)備。通過O2、CO2、水分/壓力的參數(shù)變化來判斷藥品包裝是否存在泄漏。激光法原理是通過近紅外激光產(chǎn)生的光線被分別調(diào)整至與氧分子、水分子、CO2的內(nèi)部吸收頻率相匹配,穿過產(chǎn)品上方頂空部分,根據(jù)被吸收的激光量與頂空中的物質(zhì)濃度比例來判斷。三套系統(tǒng)皆可安裝在手推車,在不同的灌裝線之間滾動(dòng),進(jìn)行在線工藝檢測(cè)和故障排查活動(dòng),或者也可將該系統(tǒng)安置于實(shí)驗(yàn)室中,用于產(chǎn)品開發(fā)、出廠測(cè)試和QC抽查。

激光法檢漏方法在制藥領(lǐng)域的應(yīng)用廣泛包括:無損殘氧分析、無損真空度測(cè)試、容器密封完整性測(cè)試,產(chǎn)品穩(wěn)定性研究,貨架期研究,滲透性研究等。

包裝頂空分析服務(wù)

熒光法:

     熒光衰減法是基于熒光衰減的原理測(cè)定頂空的氧分壓,并將氧分壓轉(zhuǎn)換為氧氣體積分?jǐn)?shù)。該方法有2種測(cè)試模式,一種是將熒光貼片吸附在容器內(nèi)壁,將熒光探頭放在容器外側(cè)對(duì)準(zhǔn)熒光貼片進(jìn)行照射,從而獲得所需的氧濃度。這種測(cè)試模式由于需要將熒光貼片放置到容器內(nèi)部,更適合于留樣管理,即針對(duì)同一個(gè)包裝容器進(jìn)行多次反復(fù)測(cè)試,可以隨著時(shí)間跟蹤容器內(nèi)的殘氧變化情況。

    另一種測(cè)試模式是將熒光貼片內(nèi)置到針頭里面,采用針頭刺入包裝測(cè)試,這種測(cè)試模式和電化學(xué)或氧化鋯法比較類似,都需要將針頭刺入包裝進(jìn)行測(cè)試,但是該方法相比電化學(xué)或氧化鋯法,不需要抽取氧氣進(jìn)行分析,也就是說,該方法具有零采樣量的優(yōu)勢(shì),這種原理尤其適用于具有負(fù)壓的容器,如凍干粉針西林瓶。因?yàn)樵谪?fù)壓下,電化學(xué)或氧化鋯法的泵抽氣時(shí)會(huì)有困難。此外,該原理也適用于小頂空(頂空<2mL)的容器,因?yàn)樾№斂杖萜鞯捻斂阵w積比較少,不足以達(dá)到電化學(xué)或氧化鋯法的小采樣量要求。如果采用電化學(xué)或氧化鋯法測(cè)試,數(shù)據(jù)可能會(huì)有一定偏差。

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