| 注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏該商鋪

行業(yè)產(chǎn)品

當(dāng)前位置：
上海眾林機(jī)電設(shè)備有限公司>>頂空分析儀>>熒光法殘氧儀>> X-325i熒光法殘氧儀/頂空分析儀

熒光法殘氧儀/頂空分析儀

返回列表頁(yè)
  • 熒光法殘氧儀/頂空分析儀
  • 熒光法殘氧儀/頂空分析儀
收藏
舉報(bào)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) X-325i
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市
在線詢(xún)價(jià) 收藏產(chǎn)品 加入對(duì)比

聯(lián)系方式：上海眾林查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2021/07/14 10:25:55瀏覽次數(shù)：971

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是制藥網(wǎng)上看到的信息，謝謝!

同類(lèi)優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品

更多產(chǎn)品

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
自動(dòng)化程度 手動(dòng)
熒光法殘氧儀/頂空分析儀是光學(xué)感應(yīng)的熒光衰減法檢測(cè)原理、藥品頂空氧分析儀頂空氧及液體溶解氧同時(shí)分析檢測(cè)

詳細(xì)介紹

熒光法殘氧儀/頂空分析儀

熒光法是一款熒光衰減法原理的殘氧分析儀，將微頂空的樣氣通過(guò)專(zhuān)門(mén)的氣體采集裝置采集到內(nèi)部置有熒光貼片的采集漏斗。然后采用熒光法檢測(cè)頂空殘氧。熒光檢測(cè)原理：氧分子和熒光貼片中的熒光物質(zhì)接觸后，使得熒光物質(zhì)發(fā)射的熒光信號(hào)減弱。信號(hào)衰減程度和氧含量成正比。

 
熒光采樣分析的檢測(cè)方式與電化學(xué)的取樣分析不同，熒光法只需要對(duì)樣品采集最小 0.1ml的樣氣，并且熒光法的測(cè)試精度更高，符合 ASTM F2714-08標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法。
 

熒光法可以適用于安瓿瓶、西林瓶、預(yù)注射等微小頂空的殘氧測(cè)試，測(cè)試結(jié)果可靠，不受樣氣量大小的影響。

 

熒光法殘氧儀/頂空分析儀型號(hào)：X-325i

熒光采樣分析的檢測(cè)方式與電化學(xué)的取樣分析不同，熒光法只需要對(duì)樣品采集最小 0.1ml的樣氣，并且熒光法的測(cè)試精度更高，符合 ASTM F2714-08標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法。

熒光法殘氧儀/頂空分析儀

 

 

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

請(qǐng) 登錄 后再收藏

提示

您的留言已提交成功！我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~