薄片厚度測試儀 復(fù)合材料測厚儀 返回列表頁

                                                                薄片厚度測試儀 復(fù)合材料測厚儀

 HP-CHY-G薄膜測厚儀采用機械接觸式測量原理，嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行測量，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

技術(shù)特征

◎測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

◎微電腦控制、大液晶顯示

◎手動、自動雙重測量模式，更方便客戶選擇

◎配備微型打印機，數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印，方便快捷地獲取測試結(jié)果

◎測厚儀自動保存最多100組測試結(jié)果，隨時查看并打印

◎標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備

薄片厚度測試儀 復(fù)合材料測厚儀

測試原理

HP-CHY-G薄膜測厚儀采用機械接觸式測量原理，截取一定尺寸的式樣；通過控制面板按鈕，調(diào)節(jié)測量頭降落于式樣之上；依靠兩個接觸面產(chǎn)生的壓力和兩接觸面積通過傳感器測得的數(shù)值測量材料的厚度。

測試標(biāo)準(zhǔn)

該儀器符合多項國家和國標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。