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奧林巴斯XRD(BTX-II)便攜式X射線衍射儀

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地北京市

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更新時間:2024-09-26 07:21:45瀏覽次數(shù):114次

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經(jīng)營模式:代理商

商鋪產(chǎn)品:14條

所在地區(qū):北京北京市

聯(lián)系人:張長江 (銷售經(jīng)理)

產(chǎn)品簡介

X射線衍射技術(shù)/發(fā)展史X射線衍射技術(shù)/集成技術(shù)BTXPROFILER的XRD技術(shù)來自于美國宇航局NASA埃姆斯實驗室,該技術(shù)曾被美國宇航局火星計劃好奇號、漫游者使用過;XRF技術(shù)則是奧林巴斯ED-XRF技術(shù)的結(jié)晶,兩大技術(shù)結(jié)合,可以提供材料的元素、成分、結(jié)構(gòu)等全方面的信息,可減少實驗成本,節(jié)約時間和空間

詳細介紹

X射線衍射技術(shù)/發(fā)展史

 

X射線衍射技術(shù)/集成技術(shù)

BTX PROFILER的XRD技術(shù)來自于美國宇航局NASA埃姆斯實驗室,該技術(shù)曾被美國宇航局火星計劃"好奇號"、"漫游者"使用過;XRF技術(shù)則是奧林巴斯ED-XRF技術(shù)的結(jié)晶,兩大技術(shù)結(jié)合,可以提供材料的元素、成分、結(jié)構(gòu)等全方面的信息,可減少實驗成本,節(jié)約時間和空間。BTX PROFILER 采用兩套獨立的X射線源和探測器,以保證快速獲取全面優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)信息,XRD部分使用CCD二維面探測

器,該探測器可以獲取整個德拜環(huán)的衍射數(shù)據(jù)信息,XRF部分則采用SDD探測器,實現(xiàn)更低的檢測下限和更高的靈敏度。

技術(shù)規(guī)格

 

 

XRD和XRF組合技術(shù)

①XRD微聚焦X射線管  

②XRD X射線束  

③XRD準直器  ④XRD樣品  

⑤CCD探測器  ⑥XRF X射線管  

⑦濾光輪  ⑧XRF X射線束

⑨XRF樣品 ⑩ XRF SDD探測器

 

 

 

用于化合物分析的二維XRD

XRD采用透射衍射幾何技術(shù),使用能量敏、

位敏的二維CCD面探測器,實現(xiàn)了儀器的小

型化和更為緊湊的結(jié)構(gòu)

1、探測器收集整個德拜環(huán)的信息而非傳統(tǒng)

臺式機只能收集德拜環(huán)一個截面的信息,增大

了數(shù)據(jù)

2、檢測快速,全譜顯示而非步進掃描,普通樣

品 分鐘即可

 

 

 

無測角儀的XRD

使用樣品振動系統(tǒng)(樣品在檢測過程中以6000hz的頻率隨機振動),替代傳統(tǒng)臺式XRD測角儀可以實現(xiàn)以下功能:

1、樣品制備簡單:樣品無需制片、壓片、刮片,只需得到<150um的顆粒即可;2、實現(xiàn)樣品顆粒的全方位角度的檢測;3、完全消除檢測過程中晶體的擇優(yōu)取向;4、增加了樣品檢測量

 

用于全元素分析的能量色散型(ED)XRF

1、大功率射線管,配以超大面積SDD探測器;2、真正實現(xiàn)了在現(xiàn)場進行快速,準確的檢測;3、直接顯示元素的ppm含量與百分比含量;4、全元素分析,從鎂(Mg)到鈾(U)之間的所有元素; 5、7個濾光片設(shè)置,可根據(jù)元素自動選擇濾光片;6、可選配氦氣裝置進一步提高輕質(zhì)元素的檢測效果;

 

 

 

 

 

 

 

XRD-XRF聯(lián)用儀/軟件

XRD

XRD使用xpowder分析軟件,該軟件可提供包括背景扣除、平滑處理、Ka2峰剝離、多譜圖疊加等功能,可以進行物相定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)精修處理、結(jié)晶度分析、晶粒度分析等功能。

物相定量分析可以使用RIR值及里特維德全譜擬合,實現(xiàn)復雜混合物的準確定量,尤其適合于礦物的全巖成分分析。

 

XRF

XRF數(shù)據(jù)處理軟件提供有關(guān)材料的定性、定量信息,其中包含光譜視圖和元素峰值辨別。定量分析使用基本參數(shù)(FP)法。在實際應用中,可以使用一系列用戶的認證標準對這些基本參數(shù)校準進行優(yōu)化(經(jīng)驗分析)。使用離線“方法建立器”軟件包可以優(yōu)化校準曲線, 自行定制分析程序,并將分析程序下載到分析儀器。

軟件還提供了其它一些用于分析的性能,如:查看元素范圍、

可選峰值識別、顯示含量結(jié)果,以及樣件組的頻譜覆蓋。

 

XRD-XRF聯(lián)用儀/應用領(lǐng)域

BTX PROFILER集成二維XRD技術(shù)及ED-XRF技術(shù),可對材料實現(xiàn)全面的分析檢測,提供材料的元素組成、化學成分、晶體結(jié)構(gòu)等方面的信息。廣泛應用于地質(zhì)礦產(chǎn)、石油地質(zhì)錄井、地球化學、制藥、催化劑、法醫(yī)、材料等工業(yè)及科研領(lǐng)域。

礦物鑒定  XRD錄井鉆井 催化劑研發(fā) 選礦效率

礦石品位  能源勘探    腐蝕物鑒定與防腐

石油地質(zhì)  藥物多晶型  材料成分及結(jié)構(gòu)

XRF錄井鉆井  真假藥識別  教育與科研

XRD-XRF聯(lián)用儀/配置

1、儀器標配一個樣品系統(tǒng),檢測時只能對單個樣品進行檢測分析。

2、可選配氦氣凈化裝置,有利于Mg、Al、Si、P、S等輕元素的檢測

關(guān)鍵詞:催化劑
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