Dektak XTL探針式輪廓儀

Dektak XTL™ 探針式輪廓儀可容納高達 350mm x 350mm 的樣品，為大型晶圓和面板制造帶來Dektak ®傳奇的可重復性。Dektak XTL 具有空氣振動隔離設計和全封閉工作站設計，具有易用的聯(lián)鎖門，是當今苛刻的生產車間環(huán)境的的理想之選。其雙攝像頭架構可增強空間感知能力，其高自動化水平可*大限度地提高測試通量。

業(yè)界*佳自動化和分析軟件

增強的軟件功能使 Dektak XTL 成為功能*強大、*容易使用的探針式輪廓儀。該系統(tǒng)利用 Vision64 軟件，通過數(shù)百種內置分析工具實現(xiàn)眾多的測量位點、3D成像和高度自定義的特征分析。Vision64軟件還能測量形狀，如曲率半徑。模式識別可*大限度地減少操作員誤差并提高測量位置精度。集成化的軟件包將數(shù)據(jù)收集和分析與直觀的工作流程相結合。

****的探針技術

Dektak XTL 以 50 多年的探針式輪廓儀的專業(yè)知識和生產設施的應用程序定制為基礎，以滿足當今和未來嚴格的行業(yè)路線圖。300 毫米高精度編碼 XY樣品臺為制造商提供了滿足嚴格計量研發(fā)要求的可靠工具。Dektak 的雙攝像頭控制與高清放大雙視場相機提供增強的空間感知。實時視頻中的點擊定位使操作員能夠快速將樣品移動到正確的位置，以便快速輕松地進行測量設置和自動化編程。該系統(tǒng)的大型聯(lián)鎖門為樣品裝載/卸載提供了安全、方便的訪問。

其他硬件功能包括：

• 單拱形架構和集成振動隔離系統(tǒng)，實現(xiàn)行業(yè)*的性能
  
• 快速更換自對齊探針
• 高精度編碼 XY 樣品臺，實現(xiàn)更快的自動數(shù)據(jù)收集

• N-Lite 低力，采用軟觸控技術，具有 1mm 測量范圍，可同時用于測量精密和高垂直范圍樣品。