雙極板材料四探針低電阻測(cè)試儀 返回列表頁

雙極板材料四探針低電阻測(cè)試儀

雙極板材料四探針低電阻測(cè)試儀

誤差： 100uA.1mA.10mA.100mA： 0.1%； 

顯示：4.3寸液晶屏、直讀電阻值、電阻率、電導(dǎo)率、溫度、電流、電壓等數(shù)據(jù)

標(biāo)配標(biāo)準(zhǔn)件：a.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻1個(gè)；b.標(biāo)準(zhǔn)高度校準(zhǔn)件1個(gè)

測(cè)量電阻靈敏度達(dá)0.01μΩ. ，測(cè)試電流能達(dá)到10A 

電流輸出：直流電流?0～1000mA?連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。加壓方式：自動(dòng)

方塊電阻范圍：10-6～2×102Ω/□   

GB/T 6617-1995 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針法

電阻分辯率：0.01μΩ.電腦和打印機(jī)依據(jù)客戶要求配置；    

分辨率：  醉小1μΩ

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.參數(shù)資料/ index

工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz? 功 耗：<30W

溫濕度范圍：常溫-50度；濕度：20%-98%

主機(jī)外形尺寸：330mm*340mm*120mm

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV

量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA,?

測(cè)量精度±（0.1%讀數(shù)）

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法、、、電工合金零件、特種陶瓷、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電阻器、半導(dǎo)體集成電路、工程地質(zhì)、水文地質(zhì)勘察與巖土工程、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、電工材料和通用零件綜合、半金屬、元素半導(dǎo)體材料、金屬無損檢驗(yàn)方法。

量程誤差：2mV 檔: 0.1%讀數(shù)+ 6個(gè)字

樣品高度量程和精度：高度測(cè)量范圍：0.001-10.001mm，測(cè)量分辨率0.001mm

測(cè)量電壓量程：?2mV?  20mV? 200mV?2V?

鋁用炭素材料檢測(cè)方法 第2部分 陰極炭塊和預(yù)焙陽極室溫電阻率的測(cè)定 GB/T6717、GB/T 24525-2009、YS/T63.2炭素材料電阻率測(cè)定方法.；ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005和YS/T 64-1993標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試陰極炭塊、預(yù)焙陽極、陽極糊陰極糊和炭素制品常溫下的電阻率。

GB/T 1551-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定 直流兩探針法

電源交流/ AC power   220±10% 50HZ/ 60HZ

GB/T 6617-2009 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針法

電流精度：±0.1%讀數(shù)

分辨率： 0.1uV，1uV，10uV，100uV 

提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求

顯示方式：液晶顯示電阻精度：≤0.3%

測(cè)試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、:1A，10A  ： 0.15%電阻：1×10-5～2×105Ω

直流恒流源： 輸出： 100uA.1mA.10mA.100mA.1A.10A. 

電阻測(cè)量范圍：

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半導(dǎo)體材料、金屬材料試驗(yàn)、絕緣流體、獸醫(yī)學(xué)、復(fù)合增強(qiáng)材料、電工器件、無損檢測(cè)、集成電路、微電子學(xué)、土質(zhì)、土壤學(xué)、水質(zhì)、電子顯示器件、有色金屬。

GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針法

電阻率：2×10-8—20kΩ·cm;電阻：0.01μΩ—20kΩ；

壓力范圍：0-1000kg（0-4MPa）.

電源：220±10% 50HZ/60HZ 

測(cè)試方式: 四探針測(cè)量（體電阻率）和四端法（接觸電阻測(cè)量）

四端測(cè)試法是目前較*之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

恒壓時(shí)間：0-99.9S

PC軟件界面：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率、電阻率、壓強(qiáng)等.

20mV. 200mV. 2V檔： 0.1%讀數(shù)+ 2字:20mV. 200mV. 2V. accuracy： 0.1%

電壓量程： 2mV.20mV. 200mV.2V 

樣品形狀為正方形（鍍金電極為5cm×5cm)，面積為25cm2（其他規(guī)格定制）

測(cè)量誤差±5%

電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm

本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。

17.標(biāo)配外選購：

計(jì)量證書1份

GB/T 14141-2009 硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定.直排四探針法

電阻率范圍：10-7～2×103Ω-cm

誤差：±.2%讀數(shù)±2字

工作電源：220±10% 50HZ/60HZ