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ZEISS Sigma 300場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱卡爾蔡司(上海)管理有限公司北京分公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2018/12/5 14:18:53
  • 訪問次數(shù)2247
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        卡爾.蔡司是視光學(xué)和光電子工業(yè)領(lǐng)域的跨國公司, 1846年創(chuàng)立至今已有170余年歷史。專注于技術(shù)的創(chuàng)新研發(fā)和為客戶提供全面的解決方案。蔡司旗下所擁有的6個(gè)獨(dú)立的事業(yè)部,即顯微鏡、醫(yī)學(xué)器材、光學(xué)眼鏡、光電子設(shè)備、半導(dǎo)體以及工業(yè)測(cè)量?jī)x。 蔡司顯微鏡部門的產(chǎn)品包含了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡、激光共聚焦顯微鏡、電子顯微鏡以及X射線顯微鏡,使蔡司公司成為一家可同時(shí)提供全系列顯微鏡解決方案的公司。通過這些解決方案,為生命科學(xué)和材料研究提供*高品質(zhì)的應(yīng)用技術(shù)服務(wù)。協(xié)助客戶不斷探索微觀世界的新視野和挖掘更全面豐富的樣品信息[Maximum Information-Maximum Insight]為我們的任務(wù)和信念。

      同時(shí),我們也致力于創(chuàng)新和應(yīng)用,以每個(gè)月申請(qǐng)60個(gè)的速度不斷研發(fā)新產(chǎn)品,著顯微鏡技術(shù)的方向標(biāo)。 蔡司中國擁有目前業(yè)內(nèi)較精良的售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)。我們永遠(yuǎn)不變的終目標(biāo),不僅僅是為用戶提供專業(yè)、嚴(yán)謹(jǐn)、優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù),還協(xié)助客戶突破難關(guān),創(chuàng)造價(jià)值,成就不可能中的可能。 如今蔡司擁有員工35000多人,在德國本土以外有15個(gè)生產(chǎn)基地,35個(gè)子公司,50多個(gè)銷售和服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)。 蔡司上海公司是德國蔡司的全資子公司,下設(shè)北京、廣州辦事處,全權(quán)負(fù)責(zé)德國蔡司在中國地區(qū)的銷售、安裝、培訓(xùn)、維護(hù)保養(yǎng)及其他支持。 蔡司品牌是高品質(zhì)與高性能的象征,是新技術(shù)與新產(chǎn)品的。

顯微鏡,醫(yī)學(xué)器材,光學(xué)眼鏡,光電子設(shè)備,半導(dǎo)體
產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
ZEISS Sigma 300場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響,并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
ZEISS Sigma 300場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

ZEISS Sigma 300場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
靈活的探測(cè),4步工作流程,高級(jí)的分析性能

將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。


Sigma 300 具有*的性價(jià)比,可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間,任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。

基于成熟的 Gemini 技術(shù)

Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響,并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率。

Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測(cè)器尺寸和高的信噪比。

靈活的檢測(cè)器選項(xiàng),獲取清晰圖像

使用新穎的ETSE和Inlens探測(cè)器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。

使用VPSE或C2D檢測(cè)器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

使用aSTEM檢測(cè)器生成高分辨率透射圖像。

使用HDBSD或YAG檢測(cè)器分析成分。

ZEISS Sigma 300場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡高級(jí)分析型顯微鏡

將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合:Sigma背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能,特別是對(duì)電子束敏感的樣品。

在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。

關(guān)鍵詞:電子顯微鏡 顯微鏡
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