產(chǎn)品描述：
1、測試點(diǎn)數(shù)：128 PIN
2、測試電壓：5V～1500V DC, 100~1000V AC
3、直流漏電流測試: 1uA～1000uA
4、絕緣阻抗:1MΩ～1000MΩ 交流漏電流測試：0.01～5mA
5、電阻測試范圍: 0.1Ω～ 5MΩ
6、電容測試范圍: 10pF ～500uF
7、二極管測試范圍: 0V ～ 7V
8、導(dǎo)通阻抗：0.001Ω～ 50Ω
9、斷/短路判定值：1KΩ～ 100KΩ
10、系統(tǒng)具自動掃描和自動找點(diǎn)功能
11、提供*的短路、斷路、錯位、導(dǎo)通阻抗、直流高壓絕緣和瞬間短斷路綜合一體化測試
12、提供電阻、二極管正反向電流、發(fā)光二極管參數(shù)、電容值和電容極性等元件量測
13、系統(tǒng)提供單邊、標(biāo)準(zhǔn)、多段和點(diǎn)測功能
14、系統(tǒng)提供手動、自動和連續(xù)測試功能模式
15、提供統(tǒng)計與列印功能，并提供良品與不良品之統(tǒng)計分析，具遠(yuǎn)程控制埠和 RS-232 通訊連接端口
16、提供檔案存儲和管理功能，記憶體內(nèi) 512KB SRAM
17、提供 320X240 全中文/英文大屏幕，中英文一鍵切換
測 量 時 間 Test Time | |
斷/短路 Open/short | 快速(4ms/次/128點(diǎn)),慢速(8ms/次/128點(diǎn)) |
導(dǎo)通電阻 Cond
| 快速55次/秒,中速45次/秒,慢速30次/秒 0.2s/64net(標(biāo)準(zhǔn))參考 |
絕緣電阻 Insulation resistance
| 一對其它3.6s/128net(0.01s) 二分快速0.4s/128net(0.01s) 0.01秒～60秒可選擇設(shè)定 |
交流高壓 AC High Voltage
| 一對其它9.5s/128net(0.01s) 二分快速0.9s/128net(0.01s) 0.01秒～60秒可選擇設(shè)定 |
瞬間/高速短斷路 INT Time | 0秒～99秒 設(shè)0秒表示無* |
測 試 參 數(shù) Test parameters | ||
項 目Project | 符號Symbol | 測試范圍Test range |
斷/短路 | O/S | 1KΩ~100KΩ |
導(dǎo)通電阻測試 | COND | 1mΩ~50Ω |
電阻量測 | R | 0.1Ω~5MΩ |
電容量測 | C | 10pF~500μF |
二極管量測 | D | 0.0V~7.0V |
絕緣阻抗 | I.S | 0.1MΩ~1000MΩ |
直流漏電流 | IL | 1μA~1000μA |
高壓漏電流 | IL | 0.01mA~5mA |
瞬間導(dǎo)通阻抗 | INT.COND | 1mΩ~50Ω |
快速瞬斷 | INT.OPEN | 0.4ms |
瞬間短斷路 | INT.O/S | 2ms/128pin靈敏度 |
規(guī) 格 說 明 Specifications | |
測試掃描模式 Scan Mode | 自動/手動/連續(xù)/外部掃描可切換
|
顯示/聲警裝置 Waming device | Pass/Fail LED紅綠指示燈/畫面顯示/聲警320*240LCD液晶顯示器，藍(lán)/白底可切換 |
存儲裝置 | 內(nèi)建512KB SRAM,可擴(kuò)充1024KB |
尺寸 Size 重量 Weight | (W×D×H)425×190×350mm 約14kg(不含配件) |
選 購 指 南 Selection Guide | ||
產(chǎn)品型號 Product Type | 量測點(diǎn)數(shù) Test Points | 量測電壓 Test Voltage |
LK-5800D | 64 pin | DC:5~1000V |
LK-5800F | 64 pin | DC:5~1000V,AC:100~800V |
LK-5800N | 128 pin | DC:5~1000V |
LK-5800N2 | 256 pin | DC:5~1000V |
LK-5800NA | 128 pin | DC:5~1000V,AC:100~800V |
LK-5800NA2 | 256 pin | DC:5~1000V,AC:100~800V |
LK-5800FA | 128 pin | DC:5~1500V,AC:100~1000V |
LK-5800FA2 | 256 pin | DC:5~1500V,AC:100~1000V |
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