膜厚測量橢偏儀
型號: Smart SE
廠家:HORIBA Jobin Yvon
產(chǎn)地:法國
技術(shù)指標(biāo):
光譜范圍:450-1000nm
· 多種微光斑自動選擇,精度〈1nm
· 光斑可視技術(shù),可觀測任何樣品表面
· CCD探測器
· 自動樣品臺尺寸:200mmX200mm;XYZ方向
· 自動調(diào)節(jié); Z軸高度>35mm
主要功能及應(yīng)用范圍:測試各種透明薄膜膜厚。
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個(gè)人信息: