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雙折射(應力)測量系統(tǒng)-EXICOR OIA

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2022/10/26 14:05:26
  • 訪問次數(shù)277
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  北京吳然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年,專業(yè)代理歐美(德國、瑞士、美國、波蘭等)高精度的光學檢測設備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內的全服務。主要包括:光學檢測產品:應力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學表面質量檢測系統(tǒng)、可調相位延遲波片等;激光檢測產品:激光功率計、能量計、光束質量分析儀、M2測試儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門控時間、FLIM、 高精度脈沖延時器等。值得一提的是,近年來公司科研團隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀,CRD光腔衰蕩法高反測量儀,偏心曲率測量儀等產品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實的基礎。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
應力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學表面質量檢測系統(tǒng)
Hinds Instruments 的ExicorOIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 獲獎光彈調制器( PEM)基于Exicor®雙折射測量技術。新一代的雙折射測量系統(tǒng)為該行業(yè)提供了分析和開發(fā)下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。
雙折射(應力)測量系統(tǒng)-EXICOR OIA 產品信息
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關鍵詞:應力儀 雙折射測量系統(tǒng)   應力測量   應力雙折射   應力測試  應力檢測   玻璃應力  birefringence  Hinds Instrument    Hinds儀器  

                 雙折射(應力)測量系統(tǒng)-EXICOR OIA 

 

的雙折射測量系統(tǒng)是透鏡、平行面、 曲面光學的傾斜角度評估。

Hinds Instruments 的ExicorOIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 獲獎光彈調制器( PEM)基于Exicor®雙折射測量技術。新一代的雙折射測量系統(tǒng)為該行業(yè)提供了分析和開發(fā)下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。

該系統(tǒng)利用PEM調制光束的偏振狀態(tài)、*探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態(tài)。這就導致了一個偏振狀態(tài)相對于另一個偏振狀態(tài)的光延遲測量結果是90°。利用這些數(shù)據(jù)可以
對雙折射、快速軸向和理論殘余應力進行評估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產中, HindsInstruments和Exicor斜入射角技術被用于評估光學雙折射。

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