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雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
品牌
型號
所在地北京市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2022/10/26 14:15:24
訪問次數(shù)362

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　　北京吳然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年，專業(yè)代理歐美(德國、瑞士、美國、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的全服務(wù)。主要包括:光學(xué)檢測產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)、可調(diào)相位延遲波片等;激光檢測產(chǎn)品:激光功率計、能量計、光束質(zhì)量分析儀、M2測試儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門控時間、FLIM、高精度脈沖延時器等。值得一提的是，近年來公司科研團(tuán)隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀，CRD光腔衰蕩法高反測量儀，偏心曲率測量儀等產(chǎn)品，為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實的基礎(chǔ)。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.

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應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介在線詢價

Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。的設(shè)計（申請中）消除了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的必要性。氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。調(diào)制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。每束光束通過分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合。電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。

雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS 產(chǎn)品信息

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雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS

概述

Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術(shù)*，具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品，該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器（PEM）。PEM的調(diào)制純度增強(qiáng)了Exicor屢獲殊榮的靈敏度，這是調(diào)制器的諧振特性的結(jié)果。 PEM的調(diào)制頻率為50 kHz，提供快速測量功能。雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計與PEM科學(xué)相結(jié)合，提供了一個重要特性：光學(xué)系統(tǒng)中沒有移動部件。移動部件的缺失產(chǎn)生高機(jī)械可靠性以及測量的可重復(fù)性，并允許同時測量幅度和角度。Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。的設(shè)計消除了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的必要性。氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。調(diào)制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。每束光束通過分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合。電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。

由Hinds儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。計算機(jī)從兩個輸入中選擇，允許從兩個信號通道進(jìn)行連續(xù)測量。分析數(shù)據(jù)，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。當(dāng)在自動映射模式下操作時，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預(yù)定的測量位置。結(jié)果以用戶的格式即時顯示。

EXICOR故事

多年來，交叉偏振器代表了雙折射測量技術(shù)的新水平，研究人員以及質(zhì)量控制專業(yè)人員都可以使用。雖然這個1或2 nm的靈敏度水平有時足夠了，“像素”量化，計量水平重復(fù)性和統(tǒng)計數(shù)據(jù)分析能力缺失。 Hinds 儀器公司研發(fā)恩怨利用光彈性調(diào)制技術(shù)的二十多年經(jīng)驗，將這個相對快速（50 kHz），非機(jī)械，幾乎純正弦的“偏振切換器”應(yīng)用于雙折射測量挑戰(zhàn)。與傳統(tǒng)測量方法相比，結(jié)果是測量靈敏度數(shù)量級的兩倍，有時甚至提高了三倍。這項技術(shù)已被廣泛發(fā)布和記錄。交鑰匙式Exicor系統(tǒng)使雙折射測量變得直觀和簡單。它的個軟件允許對雙折射數(shù)據(jù)進(jìn)行多重視圖和統(tǒng)計分析。