Zeta電位分析儀

　　珠海真理光學(xué)儀器有限公司專注于顆粒表征和分析儀器的研發(fā)和生產(chǎn)，公司聚集了多位在顆粒學(xué)和粉體技術(shù)領(lǐng)域具有豐富經(jīng)驗(yàn)和工作成就的精英人才，其專業(yè)涵蓋顆粒表征技術(shù)的基礎(chǔ)理論研究、應(yīng)用技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品制造、技術(shù)支持和商業(yè)運(yùn)營服務(wù)。 真理光學(xué)技術(shù)團(tuán)隊(duì)具有超過二十年粒度表征行業(yè)從業(yè)經(jīng)驗(yàn),參與了一臺商用激光粒度分析儀的研制。LT系列是真理光學(xué)基于多年的科研成果并融合多項(xiàng)技術(shù)開發(fā)的新一代超高速智能激光粒度分析系統(tǒng),為激光粒度分析行業(yè)樹立了新。LT系列粒度儀被廣泛用于磨料、制藥、化工、電池材料、地質(zhì)、水文等行業(yè)的顆粒粒度表征分析。Nanolink SZ901系列是真理光學(xué)在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng)，采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進(jìn)行納米粒度測量和Zeta電位分析，被廣泛應(yīng)用于有機(jī)或無機(jī)納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚傾向性的檢測和分析。多年的科學(xué)研究和激光衍射技術(shù)創(chuàng)新成果,為測量和分析高速噴霧的粒度奠定了基礎(chǔ)。噴霧顆粒的高速運(yùn)動(dòng)、粒徑范圍寬及霧場的動(dòng)態(tài)變化,要求噴霧粒度分析系統(tǒng)具有高的適應(yīng)性和光散射信號的高速處理能力。Spraylink系列超高速實(shí)時(shí)噴霧粒度分析儀專為應(yīng)對這些挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì),以實(shí)現(xiàn)對噴霧粒度進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。PATlink 1000系列是真理光學(xué)基于粒度表征技術(shù)及自動(dòng)化過程控制技術(shù)開發(fā)的新一代全實(shí)時(shí)在線粒度監(jiān)測與控制系統(tǒng),適合干法和濕法的生產(chǎn)工藝過程,既可用于在線粒度測量,也可以用于線上和現(xiàn)場的粒度分析。具有堅(jiān)固的架構(gòu)和*的技術(shù)支撐,可滿足苛刻及復(fù)雜的過程工藝環(huán)境。 從納米到微米,從固體顆粒到乳液、噴霧,從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)線上,真理光學(xué)始終致力于為客戶提供全面的顆粒表征儀器和應(yīng)用技術(shù)方案！