郭
RTS-5型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合(亦稱雙位組合)測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量,能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正,因此顯著降低了幾何因素影響,從而提高了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。所有這些,用目前大量使用的常規(guī)四探針測(cè)量方法所生產(chǎn)的儀器是無法實(shí)現(xiàn)的。
RTS-5型雙電測(cè)四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,通過此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析
技 術(shù) 指 標(biāo) :
測(cè)量范圍電阻率:0.001~200Ω.cm(可擴(kuò)展);
方塊電阻:0.01~2000Ω/□(可擴(kuò)展);
電導(dǎo)率:0.005~1000 s/cm;
電阻:0.001~200Ω.cm;
可測(cè)晶片厚度≤3mm
可測(cè)晶片直徑140mmX150mm(配S-2A型測(cè)試臺(tái));
200mmX200mm(配S-2B型測(cè)試臺(tái));
400mmX500mm(配S-2C型測(cè)試臺(tái));
恒流源電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表量程及表示形式:000.00~199.99mV;
分辨力:10μV;
輸入阻抗:>1000MΩ;
精度:±0.1% ;
顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動(dòng)顯示;
四探針探頭基本指標(biāo)間距:1±0.01mm;
針間絕緣電阻:≥1000MΩ;
機(jī)械游移率:≤0.3%;
探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm;
探針壓力:5~16 牛頓(總力);
四探針探頭應(yīng)用參數(shù)(見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
( 按JJG508-87進(jìn)行) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差(用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±4%
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度≤4%
計(jì)算機(jī)通訊接口并口
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境溫度:23±2℃;
相對(duì)濕度:≤65%;
無高頻干擾;
無強(qiáng)光直射;
專業(yè)供應(yīng)四探針測(cè)試儀系列及其配套附件產(chǎn)品(粉末壓片機(jī)、壓片模具),質(zhì)量保證、*、售后服務(wù)周到是值得廣大客戶信賴的專業(yè)供應(yīng)商。我公司長(zhǎng)年與全國(guó)各大高校、研究所、研究院、藥廠等多部門企事業(yè)單位實(shí)驗(yàn)室建立合作關(guān)系,受到廣大新老客戶的一直好評(píng)。: 郭
相關(guān)產(chǎn)品關(guān)鍵字:RTS-4四探針測(cè)試儀、RTS-5四探針測(cè)試儀、RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀、RTS-8四探針測(cè)試儀、RTS-3四探針測(cè)試儀、RTS-2四探針測(cè)試儀、SB100A/2四探針導(dǎo)體/半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀、ST-21 方塊電阻測(cè)試儀、CV-2000 型電容電壓特性測(cè)試儀、PN-30 導(dǎo)電類型鑒別儀、PN-12 導(dǎo)電類型鑒別儀、LT-2 單晶少子壽命測(cè)試儀、LT-3 單晶少子壽命測(cè)試儀