詳細摘要： 【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potenti...
產(chǎn)品型號：所在地：蘇州市更新時間：2024-10-14 在線留言干燥設備 粉碎設備 混合設備 反應設備 過濾分離設備 過濾材料 滅菌設備 萃取設備 貯存設備 傳熱設備 鍋爐 塔設備 結晶設備 其它制藥設備
大塚電子（蘇州）有限公司
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詳細摘要： 【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potenti...
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詳細摘要： 本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能等...
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詳細摘要： ● nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學系統(tǒng)，實...
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詳細摘要： 測量項目：[膜厚、折射率n、消光系數(shù)k]. 測量原理：[分光干涉法]. 測量對象：[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測量范圍：[1nm~92μm]....
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詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量 測量...
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詳細摘要： ●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置?！襁m用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）...
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詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 點 與產(chǎn)線的控制信號同步 通過光纖的自由的測試系統(tǒng) 實現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400） 同以往的產(chǎn)品相比，測量、演算、評價1個周期有可到...
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詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的強大功能 無...
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詳細摘要： 產(chǎn)品信息 特點 nanoSAQLA 的特點 1個單元可輕松連續(xù)測量5個樣品 實現(xiàn)了 在沒有自動進樣器的情況下難以 實現(xiàn)的 多個樣品的 連續(xù)測量， 也可以通過改變...
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詳細摘要： ELSZneo是ELSZ系列中的前沿產(chǎn)品，可以測量從稀溶液到濃溶液的 Zeta 電位和粒徑以及分子量測量。作為一項新功能，我們采用了多角度測量來提高分辨率它還可...
產(chǎn)品型號：ELSZneo所在地：蘇州市更新時間：2022-02-17 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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