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ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

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更新時間：2024-10-14 12:14:42瀏覽次數(shù)：16次

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大塚電子（蘇州）有限公司

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產(chǎn)品簡介

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)......

詳細介紹

產(chǎn)品信息

ELSZ series的機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。

視頻

特點

● 可對應(yīng)從稀薄到濃厚溶液（~40%）寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測量
● 通過多角度測定，可測量分辨率更高的粒徑分布
● 可以在高鹽濃度下測量平板樣品的ZETA電位
● 通過靜態(tài)光散射法可測量粒子的濃度
● 能過動態(tài)光散射法可測量微流變學(xué)
● 通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數(shù)，可以分析凝膠的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和不均勻性
● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內(nèi)進行測量
● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進行解析
● 通過樣品池內(nèi)的實測電氣浸透流圖分析，提供高精度的ZETA電位測量結(jié)果
● 可安裝熒光濾光器(選配

用途

非常適用于界面化學(xué)、無機物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。

●新型功能材料領(lǐng)域

- 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）

- 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等

●陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）

- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究

●半導(dǎo)體領(lǐng)域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用

●聚合物/化工領(lǐng)域

- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）

- 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究

●制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域　

- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機能性檢測

- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測

粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）

由于溶液中的粒子根據(jù)粒子的大小在做布朗運動，粒子受到光照射時會得到的散射光。小粒子呈現(xiàn)快速波動，大粒子呈現(xiàn)緩慢波動。
通過光子相關(guān)法分析這種波動，就可以求得粒度和粒度分布。

分析流程

zeta電位測量原理：電泳光散射法（激光多普勒法）

對溶液中的粒子施加電場時，可以觀察到粒子電荷所對應(yīng)的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒（Laser Doppler）法。

實測電滲流的優(yōu)點

測量ZETA電位時，在樣品池內(nèi)的粒子除了會泳動外，還會產(chǎn)生電滲流。電滲流是指在樣品池內(nèi)壁面帶有負電荷時，溶液中的正離子會聚集于壁面附近。如施加電場時，壁面附近的正離子會往負離子電極方向移動，并在樣品池內(nèi)附近產(chǎn)生的一種對流。

森·岡本公式充分考慮電滲流后進行樣品池內(nèi)泳動速度的解析

電滲透流應(yīng)用于多成分解析

ELSZ Series通過實測樣品內(nèi)多點觀察到的電泳移動度，可以確認測量數(shù)據(jù)內(nèi)ZETA電位分布的再現(xiàn)性及判定雜質(zhì)的波峰。

固體平板樣品池的應(yīng)用

固體平板樣品池是將固體平板樣品緊密接觸于盒型石英樣品池上方而形成一體的構(gòu)造。實測樣品池高度方向各層觀測粒子的電泳移動度，根據(jù)所得到的電滲流Profile可分析出固體表面電滲流速度，進而求得平板樣品表面的ZETA電位。

高濃度樣品池的測量原理

對于光不易穿透的高濃度樣品或有色樣品，由于受到多重散射和吸收等影響，以往使用的ELSZ series很難測量到所需結(jié)果。但現(xiàn)在，ELSZ series搭載的標準樣品池的測量范圍擴大，可測量稀溶液樣品及至高濃度溶液樣品，并且，通過采用FST法的高濃度樣品池可測量高濃度樣品領(lǐng)域的ZETA電位。

分子量測量原理（靜態(tài)光散射法）

，靜態(tài)光散射法可以輕松測量分子量。

測量原理為，將光線照射在溶液分子上可以得到散射光，根據(jù)散射光的值求取分子量，即利用了大分子可得到強散射光，小分子可得到弱散射光的現(xiàn)象。

實際上，因為濃度不同散射光強度也不同，實測數(shù)點不同濃度溶液的光散射強度，代入以下公式繪制圖示。橫軸為濃度，縱軸為與散射強度Kc/R（θ）相等的倒數(shù)。此方法也被稱為Debye圖示法。

籍由往零濃度（C=0）外插的倒數(shù)求取分子量Mw,并以此初期梯度可求得第二維里系數(shù)A2.

分子量較大的分子，散射強度會因角度而不同。

分子量籍由測量不同散射角度（θ）的散射強度不但可提高測精度，也可獲得分子擴散指標的回轉(zhuǎn)半徑。

以固定角度進行測量時，只要輸入推測的回轉(zhuǎn)半徑，角度將自行補正，可測量更高精度的分子量。

第二維里系數(shù)

表示溶媒中分子間的排斥與吸引程度，更易于觀察溶劑分子的相容性與結(jié)晶化現(xiàn)象。

●A2為正時，代表溶劑相容性高，分子間排斥力強，更加穩(wěn)定。

●A2為負時，代表溶劑相容性低，分子間吸引力強，易產(chǎn)生凝集。

●A2=0時，代表溶劑為理想溶劑，此時溫度被稱為理想溫度，排斥與吸引力處于平衡狀態(tài)，易產(chǎn)生結(jié)晶化。

規(guī)格

測定項目

●Zeta電位

●粒徑

●分子量

●粒子濃度

●微流變學(xué)測量

●凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析

參數(shù)

測量原理	粒徑	動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
	ZETA電位	電泳光散射法（激光多普勒法）
	分子量	靜態(tài)光散射法
光學(xué)系統(tǒng)	粒徑	零差光學(xué)系統(tǒng)
	ZETA電位	外差光學(xué)
	分子量	零差光學(xué)系統(tǒng)
光源	高功率半導(dǎo)體激光器
探測器	高靈敏度APD
樣品池單元	ZETA電位：標準池微量一次性池或濃縮池
	粒度/分子量：方形池
溫度	0~90℃（帶溫度梯度功能）
電源	220V ± 10% 250VA
尺寸(WDH)	330(W)×565(D)×245(H)
重量	22Kg