詳細(xì)摘要： 強(qiáng)大的氣體分析模塊，基于我們強(qiáng)大的和已被認(rèn)可的4波段分辨率的傅里葉變換紅外光譜和一個(gè)小型的5米光路，小體積（0.2升）多次加熱單元。據(jù)我們所知GASEX 是超緊...

詳細(xì)摘要： QptLux SD 是一款革命性的光學(xué)表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，具備高重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

詳細(xì)摘要： 昊然偉業(yè)代理的SpectroSolar系列產(chǎn)品是專門用于測(cè)量光源，比如太陽光模擬器發(fā)光光譜能量分布。應(yīng)用于測(cè)量連續(xù)或脈沖光源光譜及太陽光模擬器的校驗(yàn)

詳細(xì)摘要： 特點(diǎn)：結(jié)構(gòu)緊湊（小的FTIR光譜儀）模塊化設(shè)計(jì)以太網(wǎng)和USB連接高分辨率（4cm-1）寬光譜范圍：2μm-12μm（5000-830cm-1）低成本

詳細(xì)摘要： ARCspectro HT 系列產(chǎn)品是基于偏振光學(xué)的高通量靜態(tài)傅里葉變換光譜儀，具有通光量高、無需附加光學(xué)設(shè)備等特點(diǎn)，在測(cè)量弱光、漫反射光、以及在熒光、拉曼光譜...

詳細(xì)摘要： CRD高反射率測(cè)量儀

詳細(xì)摘要： Lumetrics 品牌OptiGauge系列厚度測(cè)量系統(tǒng)采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理。特點(diǎn)：1. 非接觸式、非破壞性； 2. 實(shí)時(shí)在線測(cè)量或離線測(cè)量；...

詳細(xì)摘要： Lumetrics收購了WaveFront Sciences公司，生產(chǎn)夏克-哈特曼波前傳感器。Lumetrics的CLAS-2D系列夏克-哈特曼波前傳感器集合了...

詳細(xì)摘要： ALBATROSS-TT是由德國Fraunhofer IOF 研發(fā)的角分辨式散射測(cè)試系統(tǒng)，具有高動(dòng)態(tài)范圍、高靈敏度、低噪聲等特點(diǎn)

詳細(xì)摘要： 弱吸收的意義在高功率激光系統(tǒng)中，光學(xué)鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會(huì)引起以下熱透鏡效應(yīng)進(jìn)而產(chǎn)生一系列問題： 1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化 2.波前畸變 3.退偏...

詳細(xì)摘要： Horos (hight sensitive optical roughness sensor) 是一種小型的，便于移動(dòng)的光學(xué)傳感器。它以散射測(cè)量為基礎(chǔ)，用于測(cè)...

詳細(xì)摘要： PCI弱吸收儀特點(diǎn)：精度高: 1 ppm；一次測(cè)量可以區(qū)分體、面吸收；掃描速度快（幾分鐘）；對(duì)樣品規(guī)格要求不高；操作方便、簡單。

詳細(xì)摘要： 弱吸收的意義在高功率激光系統(tǒng)中，光學(xué)鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會(huì)引起以下熱透鏡效應(yīng)進(jìn)而產(chǎn)生一系列問題： 1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化 2.波前畸變 3.退偏...

詳細(xì)摘要： 自動(dòng)測(cè)角儀G-1DA用于測(cè)量光學(xué)產(chǎn)品面與面之間的夾角。ZG Optique SA于1999年在瑞士成立，一直致力于開發(fā)和生產(chǎn)用于計(jì)量，運(yùn)輸，光學(xué)行業(yè)和研究的高精...

詳細(xì)摘要： EKKOTM 圓二色性微片測(cè)量儀用于光學(xué)活性化合物的高通量篩選。EKKOTM 圓二色性微片測(cè)量儀使用垂直光路直接從標(biāo)準(zhǔn)孔板測(cè)量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到...

詳細(xì)摘要： PCI弱吸收儀特點(diǎn)：精度高: 1 ppm；一次測(cè)量可以區(qū)分體、面吸收；掃描速度快（幾分鐘）；對(duì)樣品規(guī)格要求不高；操作方便、簡單。

詳細(xì)摘要： Exicor雙折射微型成像儀為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員提供了評(píng)估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。 微型成像儀具有0.7μm的數(shù)字分辨率，0.1nm的檢...

詳細(xì)摘要： 偏振測(cè)量長期以來一直是Hinds儀器的專業(yè)技術(shù)，在新的交鑰匙雙PEM研究中，STOKES偏振計(jì)系統(tǒng)是為測(cè)量光的斯托克斯參量提供高靈敏度的下一步，該系統(tǒng)在光學(xué)元件...

詳細(xì)摘要： 使用Hinds儀器公司PEM技術(shù)，該系統(tǒng)為一個(gè)完整的Mueller偏振計(jì)提供了高水平的靈敏度。關(guān)鍵詞：150XT,穆勒橢偏儀，Hinds. Hinds Inst...

詳細(xì)摘要： Exicor測(cè)量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測(cè)量并顯示延遲軸的大小和方向。的設(shè)計(jì)（申請(qǐng)中）消除了光學(xué)系統(tǒng)中的移動(dòng)部件，并避免了在測(cè)量角度之間...