詳細(xì)摘要： Hinds Instruments 公司的2-MGEM橢圓儀是一種用于測量米勒矩陣樣本的正常入射偏振反射顯微鏡。它可以用來評估RTISO 核燃料熱解碳層的光學(xué)各...

詳細(xì)摘要： LCD材料的超低階雙折射測量用于LCD的Exicor GEN系列在與光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng)，用于測量...

詳細(xì)摘要： Hinds儀器的’Exicor® 雙折射測量系統(tǒng)PV-Si是工作平臺的擴展。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光和Ge雪崩光電二極管探...

詳細(xì)摘要： Hinds 儀器的Exicor雙折射測量系統(tǒng)型號150AT是Exicor®雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統(tǒng)具有多功能性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)實驗室...

詳細(xì)摘要： Hinds Instruments 的ExicorOIA是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsr...