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日立 超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 專門為電子束敏感樣品和需300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計(jì)。
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2024-04-03 參考價(jià): 面議 在線留言 -
日立 超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8600系列 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展,電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量,而且重視其采集過(guò)程的時(shí)代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列...
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日立 超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Regulus系列 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 現(xiàn)有機(jī)型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合,衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220...
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日立 超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8700 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展,電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量,而且注重其采集過(guò)程的時(shí)代。SU8700作為一款面向新時(shí)代的SEM,在日立電...
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日立 熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU5000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 創(chuàng)新的“EM Wizard"界面更加直觀,僅需要“點(diǎn)擊"即可得到的圖像。 超前的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個(gè)新水平。
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日立 掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 的SEM更為緊湊" 寬幅僅為45 cm的緊湊型的設(shè)計(jì),仍具備4.0 nm的圖像分辨率。 全新開發(fā)的用戶界面和電子光學(xué)系統(tǒng)讓您深切體驗(yàn)其高性能。
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日立 超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU7000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質(zhì)圖像,而且還可以同時(shí)接收多種信號(hào)。此外,它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。S...
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日立 TM系列專用能譜儀(EDS)AZtec系列 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 1、圖標(biāo)按操作流程順序排列,操作簡(jiǎn)便。2、通過(guò)對(duì)應(yīng)譜圖可簡(jiǎn)單確認(rèn)元素重疊狀況。3、通過(guò)TruMap功能分離出譜峰重疊元素并準(zhǔn)確顯示(AZtecOne)...
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日立 TM系列專用能譜儀(EDS) Quantax75 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 操作簡(jiǎn)單且直觀
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日立 離子研磨儀ArBlade 5000 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 ArBlade 5000是日立離子研磨儀的高性能機(jī)型。 它實(shí)現(xiàn)了超高速截面研磨。 高效率截面加工功能,使電鏡截面觀察時(shí)樣品加工更簡(jiǎn)單。
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日立 臺(tái)式顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)。我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念,開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的T...
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日立 掃描電子顯微鏡SU3800/SU3900 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 集優(yōu)異性能、操作簡(jiǎn)便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴(kuò)展性,結(jié)合眾多的自動(dòng)化功能,可高效發(fā)揮其高性能。...
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日立 離子研磨儀 IM4000II 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品介紹 日立離子研磨儀標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型IM4000Ⅱ能夠進(jìn)行截面研磨和平面研磨。還可通過(guò)低溫控制及真空轉(zhuǎn)移等各種選配功能,針對(duì)不同樣品進(jìn)行截面研磨。
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