Phenom MAPS：為何材料研究人員都在悄悄使用這款軟件？

Phenom MAPS 多模態(tài)多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件，可自動獲取大型圖像數(shù)據(jù)集，并直觀地組合和關(guān)聯(lián)多種成像、分析模式，從而提供多尺度和多模態(tài)的表征數(shù)據(jù)。

該軟件支持 Phenom 全系列臺式掃描電子顯微鏡型號，包括 Phenom XL G2、Phenom Pharos G2 和 Phenom ProX。歡迎聯(lián)系我們升級體驗。

01 MAPS 核心功能 

• 大面積自動數(shù)據(jù)采集：實現(xiàn)自動化無縫全景拼圖和大面積 EDS 能譜數(shù)據(jù)采集

• CISA 多平臺數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)功能：光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關(guān)聯(lián)

• 多尺度成像自動化：軟件提供全自動的高質(zhì)量、多尺度成像解決方案

• 跨平臺設(shè)備連接：不同設(shè)備之間可以進行以樣品為中心的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)處理工作

• 離線數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)管理：MAPS 軟件的離線版本方便您隨時進行數(shù)據(jù)處理并規(guī)劃下一次成像工作

02 MAPS 自動數(shù)據(jù)采集功能

用戶可以在各種樣本上設(shè)置和運行多個圖塊集，實現(xiàn)自動化、無人值守的儀器作業(yè)，優(yōu)化設(shè)備操作時間，獲取高質(zhì)量數(shù)據(jù)。 

自動數(shù)據(jù)采集技術(shù)讓您無需花費數(shù)小時搜索感興趣的區(qū)域，可以快速輕松拍攝大面積拼圖的同時還能夠自動收集選定區(qū)域的高分辨率數(shù)據(jù)。 

案例1 銀在傷口敷料中的分布情況

含銀的傷口敷料是一種先進的愈合技術(shù)，利用銀的抗菌特性來預(yù)防感染。

這些敷料由包括傷口墊的多層組成，傷口墊含有銀，由吸收液體的無紡布聚合物纖維制成。這些纖維通過聚乙烯網(wǎng)膜與傷口隔開，防止傷口墊粘在傷口上。

含銀的傷口墊可防止感染

無縫全景拼圖：大面積 SEM 傷口敷料拼圖穿孔網(wǎng)膜后面是聚合物纖維

此類敷料的有效性取決于銀的物理和化學特性以及銀在敷料中的分布情況。如果銀離子濃度過高，則離子可能會從敷料中釋放出來并導致細胞毒性作用。

利用飛納臺式掃描電鏡的 MAPS 軟件可以創(chuàng)建高分辨率 EDS 圖，顯示銀在傷口敷料中的分布情況。如下圖所示，銀（以粉紅色顯示）排列在聚乙烯網(wǎng)的邊緣。這可以表征敷料的質(zhì)量及其與銀離子控制釋放的關(guān)系。

小面積 EDS 圖與 MAPS 軟件中大面積敷料能譜拼圖，粉色顯示了銀的分布

案例2礦物-大面積能譜拼圖分析

與傳統(tǒng)技術(shù)相比，Phenom MAPS 軟件可以幫助您更快地獲取低倍率、大面積的 EDS 能譜圖，從而直觀地顯示整個樣品中的元素分布。（以礦物樣品分析為例）

數(shù)據(jù)收集后，通過 Phenom MAPS 軟件進行進一步的定量 EDS 分析。

MAPS 大面積能譜拼圖結(jié)果

支持離線數(shù)據(jù)處理：將 EDS 數(shù)據(jù)導入 Phenom 臺式掃描電鏡的 UI 中

此外，Phenom MAPS 軟件的離線功能可以幫您將數(shù)據(jù)從設(shè)備中導出并在任意一臺 PC 中隨時進行數(shù)據(jù)分析。您可以在 MAPS 軟件中標注數(shù)據(jù)并選擇新的區(qū)域進行數(shù)據(jù)采集。該軟件還可以進行多個數(shù)據(jù)集的大視野圖像自動拼接和導出，提供多種拼接算法和導出選項，可以導出 RAW、tile TIFF 或 HD 視圖的兼容格式。

03 關(guān)聯(lián)一切可視化圖片

光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關(guān)聯(lián)。下圖案例：通過 MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結(jié)合，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

通過結(jié)合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學信息與顯微鏡提供的高分辨率結(jié)構(gòu)信息融合。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。