TechnoorgLinda精修離子束系統(tǒng)的低能氬離子槍（GIB） 適用于表面減薄、其他表面處理后的后處理、清潔以及去除無定形和氧 化物表面層。 當(dāng)?shù)湍軞咫x子槍...

SEMPREP SMART離子研磨儀配備了高能量和可選的低能量氬離子槍。這款設(shè)備是用于掃描電子顯微鏡(SEM)和電子背散射衍射(EBSD)樣品的最終加工和清潔的...

ParticleX Battery 全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng)可以全自動(dòng)對(duì)正負(fù)極中的鐵類雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，整個(gè)過程無需人工參與。定量磁性雜質(zhì)顆...

臺(tái)式離子研磨拋光儀 SEMPrep2 作為新一代的高精密氬離子研磨系統(tǒng)，可以滿足研究人員苛刻的研磨需求。集成式多功能截面拋削以及無損平面拋光系統(tǒng)，為 SEM 以...

VSParticle 致力于提供快捷的納米材料研究方式，團(tuán)隊(duì)基于“火花燒蝕"技術(shù)將導(dǎo)電靶材快速轉(zhuǎn)換為納米氣溶膠，為您解鎖納米材料研究新方案。

PANDORA 是高度集成的臺(tái)式原子層沉積系統(tǒng)，可擺放在實(shí)驗(yàn)室的任意角落，采用旋轉(zhuǎn)式反應(yīng)腔實(shí)現(xiàn)對(duì)粉末材料的分散，有更高的兼容性。對(duì)于平面樣品，則可快速插入平面反...

P 系列是 Forge Nano 針對(duì)工業(yè)包覆研發(fā)的粉末 ALD 負(fù)載系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn) kg 級(jí)粉末批量包覆，是工業(yè)生產(chǎn)前理想的研發(fā)工具?！驹訉映练e多少錢】

秉承飛納臺(tái)式掃描電鏡系列全自動(dòng)操作、快速成像、不噴金觀看不導(dǎo)電樣品、*防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺(tái)式場發(fā)射電鏡 Phenom...

Thermo Scientific™ Apreo SEM 場發(fā)射電鏡具有多功能性和高質(zhì)量成像性能，即使是磁性樣品或是傳統(tǒng)意義上成像非常困難的樣品也可...

對(duì)高分辨率成像來說， 桌面掃描電鏡 Phenom Pure 是經(jīng)濟(jì)節(jié)約型的產(chǎn)品，與同類產(chǎn)品相比，它能提供更佳的成像效果。

來自飛納桌面電鏡的 Phenom XL G2，可自動(dòng)進(jìn)行質(zhì)量控制，并提供準(zhǔn)確、可重復(fù)的檢測結(jié)果，讓您騰出時(shí)間進(jìn)行其他更有價(jià)值的工作。

第六代 Phenom Pro 臺(tái)式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大，輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能，結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的...

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 臺(tái)式掃描電鏡引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過...

使用飛納臺(tái)式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析。飛納臺(tái)式電鏡粒度分析測量系統(tǒng)支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。

結(jié)合飛納臺(tái)式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺(tái)式掃描電鏡...

高性價(jià)比掃描電鏡 Phenom Pure 裝配的基本組件可以滿足高分辨率成像的要求，這些基本組件不僅可以保證電鏡高質(zhì)量的成像，而且能夠?qū)崿F(xiàn)快速裝載樣品，短時(shí)間內(nèi)...

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代...

Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步?？焖?、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phen...

荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射...

第六代 Phenom Pro 高分辨率臺(tái)式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大，輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能，結(jié)合豐富的樣品杯選件...