Dimension FastScan德國BRUKER 原子力顯微鏡AFM

Dimension FastScan德國BRUKER 原子力顯微鏡AFM在ScanAsyst模式中，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片，即使掃描速度達到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。
■Z方向，探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s，同時在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差<1%，真正使Fastscan成為了一臺快速掃描AFM。
■ 自動的激光和檢測器的調(diào)節(jié)使得實驗的組建更為快速有效。
■ 系統(tǒng)使用自帶的樣品導(dǎo)航軟件MIRO，利用光學(xué)成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級的樣品特征。
的光學(xué)系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針，在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下，得到激光信號調(diào)節(jié)。
■ 針尖掃描系統(tǒng)的設(shè)計與210mm大尺寸樣品臺結(jié)合，消除了樣品尺寸的限制，同時維持了的噪音和熱漂移水平。

AFM性能

Dimension FastScan AFM 優(yōu)秀的分辨率，與Bruker*的電子掃描計算方法相結(jié)合，提供給用戶顯著提升的測量速度與質(zhì)量。Dimension Icon是我們工業(yè)的針尖掃描技術(shù)的革新，配置了溫度補償位置傳感器，展現(xiàn)出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平，這個驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺，34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計也能展現(xiàn)較高掃描速度，而不損壞圖像質(zhì)量，實現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。Icon 掃描管比當(dāng)今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度。這種革新與新的掃描和下針算法相結(jié)合，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。

杰出的生產(chǎn)力

使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過程研究中已成為一個標志性的符號。FastScan把此平臺引入了更的新水平，展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測量結(jié)果。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往的AFM技術(shù)更加簡便。可以使初學(xué)者在操作中，同樣得到專家級的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果，而無需像以前一樣通常需要幾小時的專業(yè)調(diào)整。Dimension FastScan的每個方面—從*開放式針尖樣品空間，到預(yù)存軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過特殊設(shè)計以求達到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率，全新的直觀用戶界面，世界聞名的Dimension AFM平臺，三者結(jié)合提供了的AFM儀器性能，保證您在最短時間內(nèi)得到測試結(jié)果并發(fā)表出版。

靈活的平臺

Dimension FastScan 展現(xiàn)出的的性能，堅固性和靈活度，使得這臺儀器實現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能，將AFM強大的功能*展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標準。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升，以迎合您不斷增長的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學(xué)、電學(xué)和電化學(xué)附件。

的性能和多種附加模塊滿足您的一切科研需要

出眾的性能滿足各種應(yīng)用需求

Dimension FastScan可同時高速捕捉多個通道的數(shù)據(jù)，獲得更多通道的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。結(jié)合我們Bruker的很多AFM技術(shù)，模式和模式增強功能，Dimension FastScan以其*的性能優(yōu)勢，幫助您完成更高水平的納米研究。

材料成像

FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速掃描掃描
管的情況下可進行納米力學(xué)成像。使用FastScan技術(shù)，大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學(xué)圖譜的時間。

納米操縱

可實現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應(yīng)，大大提高了操縱的精確度。同時超低噪音的精密探針的準確定位，適用于任何納米操作系統(tǒng)。

加熱和冷卻

在以各種AFM 模式掃描的同時可實現(xiàn)-35℃到250℃的溫度的精確控制和熱分析。另外還可使用熱探針對低于100nm的局部加熱到500℃。

電學(xué)表征

使用的模式，可以在更高的靈敏度和更大的動態(tài)范圍上實現(xiàn)電學(xué)表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了*的電學(xué)表征方法，同時還可以與樣品上的力學(xué)屬性相聯(lián)系。

利用最短時間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數(shù)據(jù)結(jié)果

無論是作為科研交流還是發(fā)表科學(xué)文章，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業(yè)精確的數(shù)據(jù)測量和高質(zhì)量AFM圖片。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運用簡易方法對大量數(shù)據(jù)進行快速準確的處理分析。

樣品篩選

利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信，進行樣品常規(guī)篩選。無論是材料生產(chǎn)中進行失效分析或納米級的質(zhì)量控制，及時的產(chǎn)品信息反饋是的產(chǎn)品質(zhì)量控制過程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時，高精準度成為條件。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數(shù)據(jù)對其中的非晶藥物成分進行篩選，這可能成為FastScan的一個新用途。

動態(tài)應(yīng)用范例

另一種常見的應(yīng)用是觀察一個納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下，隨著時間產(chǎn)生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中，對納米尺度的動態(tài)變化觀察都是研究價值的。Dimesion FastScan為這種實驗提供了極為便利的條件。