日本理學(xué) XRD 智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab
智能 X 射線衍射儀 SmartLab 系列,是當(dāng)今世界性能的多功能的 X 射線衍射儀,它采用了理學(xué)的 CBO 交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)、智能的測(cè)量分析軟件 SmartLab Guidance,一臺(tái)儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測(cè)試。
日本理學(xué)智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab 技術(shù)參數(shù)
• 1、X 射線發(fā)生器功率為 3KW、新型 9KW 轉(zhuǎn)靶
• 2、測(cè)角儀為水平測(cè)角儀
• 3、測(cè)角儀最小步進(jìn)為 1/10000 度,精度測(cè)角儀(雙光學(xué)編碼、直接軸上定位)(理學(xué))
• 4、測(cè)角儀配程序式可變狹縫
• 5、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)(理學(xué))
• 6、CBO 交叉光路,提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路(帶 Mirror)(理學(xué))
• 7、小角散射測(cè)試組件(SAXS / Ultra SAXS)
• 8、多用途薄膜測(cè)試組件
• 9、微區(qū)測(cè)試組件、CBO-F 微區(qū)光學(xué)組件
• 10、In-Plane 測(cè)試組件(理學(xué))
• 11、入射端 Ka1 光學(xué)組件
• 12、高速探測(cè)器 D/teX-Ultra(能量分辨率 20%以下)
• 13、二維面探 PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測(cè)器,可以接收直射 X 射線)
• 14、智能的測(cè)量分析軟件 SmartLab Guidance()
•日本理學(xué)智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab 主要特點(diǎn)智能 X 射線衍射儀 SmartLab 系列,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。
可以分析的材料包括:金屬材料、無(wú)機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料
可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品
主要的應(yīng)用有:
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld 定量分析
5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
6. In-Plane 裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)
7. 小角散射與納米材料粒徑分布
8. 微區(qū)樣品的分析