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JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2021/7/16 20:15:02
  • 訪問次數(shù)231
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司,經(jīng)過十多年的紫外光專業(yè)技術(shù)沉淀,可以根據(jù)客戶特殊要求提供定制化服務(wù),研發(fā)設(shè)計組裝:紫外臭氧清洗機(UV清洗機),準(zhǔn)分子清洗機,等離子清洗機/去膠機等科研以及生產(chǎn)設(shè)備,擁有自主品牌及注冊商標(biāo)。 同時我們代理歐美日多家高科技設(shè)備廠家高性價比產(chǎn)品, 始終堅持創(chuàng)新, 技術(shù), 服務(wù), 誠信的企業(yè)文化,為廣大中國及海外客戶提供的儀器設(shè)備和材料的整體解決方案。 應(yīng)用領(lǐng)域: 半導(dǎo)體/微納,光電/光學(xué), 生命科學(xué)/生物醫(yī)療等領(lǐng)域的研發(fā)和生產(chǎn), 客戶群體例如高等院校, 研究所,科技企業(yè)及醫(yī)療機構(gòu)等。 半導(dǎo)體/微納,光電/光學(xué) 產(chǎn)品主要有: 德國ParcanNano(Nano analytik)針尖光刻機,電子束光刻機, 激光直寫光刻機,紫外光刻機,微納3D打印機,德國Sentech刻蝕機/鍍膜機及原子沉積,英國HHV磁控/電子束/熱蒸發(fā)鍍膜機,微波離子沉積機MPCVD,芬蘭Picosun原子層沉積機,電子顯微鏡, 德國Bruker布魯克原子力顯微鏡/微納表征/光譜儀, 美國THERMO FISHER賽默飛光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀,美國Sonix超聲波顯微鏡, 德國耐馳Netzsch熱分析儀, 德國Optosol吸收率發(fā)射率檢測儀, 日本SEN UV清洗機/UV清洗燈,美國Jelight紫外清洗機/紫外燈管,德國Diener等離子清洗機等*技術(shù)產(chǎn)品。 生命科學(xué)/生物醫(yī)療 產(chǎn)品主要有:PCR儀,核酸質(zhì)譜儀/核酸檢測儀,電子顯微鏡,紫外設(shè)備,光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀,生物芯片,試劑,實驗耗材等。 并可依據(jù)客戶需求,研發(fā)定制相關(guān)產(chǎn)品。我們以高性價比的優(yōu)勢為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),為高等院校, 研究所,科技企業(yè)及醫(yī)療機構(gòu)等客戶提供儀器設(shè)備和材料。
電子顯微鏡
JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式型能量過濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。
JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

JEM-3200FS 場發(fā)射透射電子顯微鏡

JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。

產(chǎn)品規(guī)格:

物鏡極靴*1

超高分辨UHR

高分辨率HR

高傾斜HT

高襯度HC

分辨率

 點分辨率
晶格分辨率

0.17nm
0.1nm

0.19nm
0.1nm

0.21nm
0.1nm

0.26nm
0.14nm

能量分辨率

0.9 eV(零損失FWHM)

加速電壓

300kV,200kV,100kV*2

 最小步長
 能量位移

100V
3,000V (以0.2V為步長)

電子槍

 發(fā)射體

ZrO/W(100) 肖特基式

 亮度

≧7×108 A/cm2 ? sr

 真空度

3×10-8Pa

 探針電流

探針直徑為1nm時,電流在0.5nA以上

穩(wěn)定度

 加速電壓

2×10-6/min

 物鏡電流

1×10-6/min

 過濾器透鏡電流

1×10-6/min

物鏡

 焦距

2.7 mm

3.0 mm

3.5 mm

3.9 mm

 球差系數(shù)

0.6 mm

1.1 mm

1.4 mm

3.2 mm

 色差系數(shù)

1.5 mm

1.8 mm

2.2 mm

3.0 mm

 最小焦距步長

1.0 nm

1.4 nm

1.5 nm

4.1 nm

束斑尺寸

 TEM 模式

2 ~ 5 nmφ

2 ~ 5 nmφ

7 ~ 30 nmφ

 EDS 模式

0.4 ~ 1.6 nmφ

0.5 ~ 2.4 nmφ

4 ~ 20 nmφ

 NBD 模式

0.4 ~ 1.6 nmφ

0.5 ~ 2.4 nmφ

-

 CBD 模式

0.4 ~ 1.6 nmφ

0.5 ~ 2.4 nmφ

-

電子束衍射

 衍射角(2α)

1.5 t~ 20 mrad

-

 取出角

±10 °

-

倍率

 MAG 模式

×2,500 ~ 1,500,000

×2,000 ~ 1,200,000

×1,500 ~ 1,200,000

 LOW MAG 模式

×100 ~ 3,000

 SA MAG 模式

×8,000 ~ 600,000

×6,000 ~ 500,000

×5,000 ~ 500,000

視野

10eV時狹縫寬度60mm(底片上)
2eV時狹縫寬度25mm(底片上)

相機長度

 選區(qū)電子衍射

200 ~ 2,000 mm

250 ~ 2,500 mm

400 ~ 3,000 mm

EELS 散射

 能量選擇
 在能量選擇狹縫上

0.85 μm/eV , 300 kV

 底片上

100 ~ 220 μm/eV , 300kV

樣品室

 樣品移動范圍 (XY/Z)

2mm/0.2mm

2mm/0.4mm

2mm/0.4mm

2mm/0.4mm

 樣品傾斜角 (X/Y)

±25°/±25°*3

±35°/±30°*3

±42°/±30°*3

±38°/±30°*3

EDS*4

 固體角

0.13 sr

0.09 sr

 取出角

25°

20°

產(chǎn)品特點:

· JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。

· 鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器(omega 過濾器)

· 鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器內(nèi)置于成像透鏡系統(tǒng),能容易地獲得能量過濾像和能量損失譜,同時還能獲得與傳統(tǒng)電子顯微鏡同等的放大倍率范圍。此外、Ω型過濾器的電子光學(xué)系統(tǒng)在設(shè)計上地減少了圖像畸變,出廠前還將剩余一點的畸變做了最后的修正。JEM-3200FS還采用了高靈敏度的相機系統(tǒng)及圖像處理系統(tǒng)(選配件),可以構(gòu)建元素面分布系統(tǒng)及能量損失譜系統(tǒng)。

· 新型控制系統(tǒng)

· 電子槍、電子光學(xué)系統(tǒng)、測角臺、抽真空系統(tǒng)等電子顯微鏡基本功能的系統(tǒng)化,實現(xiàn)了高穩(wěn)定、高性能的控制系統(tǒng)。圖像畫面和用戶界面 采用Windows ®*1,可以進行編程操作和附件的集中控制。

· 新型測角臺

· 系統(tǒng)化的新型測角臺內(nèi)置壓電陶瓷驅(qū)動機構(gòu),使高倍率下的樣品移動更加精確。*2.

· *1 : 注意事項:Windows是微軟公司在美國和其他國家的注冊商標(biāo)。
*2 : 僅有壓電元件包括在基本單元中,壓電元件的電源為選配件。

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