JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀
- JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí),追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作,是更*的一體化集成FE-EPMA。
產(chǎn)品規(guī)格:
檢測(cè)元素范圍: WDS: Be*1 / B to U, EDS: Be to U |
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檢測(cè)X-ray 范圍: 波長(zhǎng)范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm 能量范圍EDS: 20 keV |
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譜儀數(shù):WDS: 最多5個(gè)可選, EDS: 1個(gè) |
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樣品尺寸:100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
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加速電壓:1 to 30 kV (0.1 kV steps) |
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探針電流范圍:1 pA to 3 μA |
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探針電流穩(wěn)定性:± 0.3% / h, ± 1.0% /12 h*2 | |
二次電子像分辨率(觀察模式):2.5 nm |
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二次電子像分辨率(分析模式下): 20 nm( 10 kV, 10 nA) 50 nm( 10 kV, 100 nA) | |
掃描放大倍率:×40 to 300,000 (W.D. 11 mm) |
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掃描圖像分辨率:Maxium 5,120 × 3,840 |
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產(chǎn)品特點(diǎn):
電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域,作為研究開發(fā)和*的分析工具被廣泛使用,其用途越來越廣。此外,在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ,地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用,礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等,期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻(xiàn)。與此相應(yīng),在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí),追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。JXA-iHP200F能更加有效地進(jìn)行觀察分析操作,是更*的一體化集成場(chǎng)發(fā)射EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡(jiǎn)稱
◇ [Setting]
自動(dòng)定位,準(zhǔn)確安裝樣品臺(tái)!迅速找到想觀察的點(diǎn)!
進(jìn)樣和獲取樣品臺(tái)導(dǎo)航像一鍵完成。從導(dǎo)航像能夠分析區(qū)域。
◇ [Analysis]
充分的自動(dòng)功能,誰都可以拍到高級(jí)的SEM像
繁瑣的設(shè)定也能對(duì)應(yīng),EPMA立馬進(jìn)行元素分析
光學(xué)顯微鏡的自動(dòng)聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動(dòng)功能相結(jié)合,任誰都可以拍到高級(jí)的SEM像。
【live Analysis】
通過【live Analysis】能夠在觀察中進(jìn)行篩選分析。初學(xué)者也能操作的【簡(jiǎn)單的EPMA】。
用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進(jìn)行EPMA的條件設(shè)定。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時(shí)間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能。
通過WD/ED integration,分析時(shí)間縮短的例子
integration:用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合
◇ [Self Maintenance]
內(nèi)置18種類校正樣品,有效進(jìn)行校正
配置【分光器校正功能】減輕了定期進(jìn)行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時(shí)的人為失誤;利用夜間對(duì)儀器進(jìn)行校正,提高了工作效率。
按照【維護(hù)通知功能】,在必要時(shí)期對(duì)儀器進(jìn)行自我維護(hù),保持設(shè)備狀態(tài)。
維護(hù)通知功能【客戶支持工具】
◇ 標(biāo)配場(chǎng)發(fā)射電子槍
能夠在高倍率下獲得高空間分辨率的SEM像和分析結(jié)果。在大電流下保持長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定的熱電子槍在短時(shí)間內(nèi)分析微量元素的時(shí)候、整夜運(yùn)行分析大量樣品的時(shí)候顯示出它的威力。