顆粒電位滴定及粒度分析儀通過(guò)使用stabino，可實(shí)現(xiàn)快速便捷的顆粒的電位滴定測(cè)試。分散體中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因，故帶...

噴霧顆粒分析監(jiān)測(cè)儀德國(guó)AOM系統(tǒng)公司名稱來(lái)源于“AdvanceOpticalMeasurementSystems“，即先進(jìn)的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，AOM公司作為噴霧監(jiān)測(cè)...

顆粒3D動(dòng)態(tài)圖像分析儀原理：從頻閃光源發(fā)出的頻閃光，經(jīng)過(guò)光束擴(kuò)束器，得到平行的頻閃光，在測(cè)試區(qū)域頻閃光照射在分散好的單個(gè)顆粒上，經(jīng)過(guò)擁有專業(yè)的光學(xué)成像系統(tǒng)，得到...

噴霧粒度分析儀Microtrac Inc.是世界上著名的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，其先進(jìn)的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，...

Zeta電位及納米粒度分析儀納米粒度測(cè)量——?jiǎng)討B(tài)光背散射技術(shù)隨著顆粒粒徑的減小，例如分子級(jí)別的大小，顆粒對(duì)光的散射效率急劇降低，使得經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢...

顆粒在線干法動(dòng)態(tài)圖像分析儀顆粒形貌的分析：對(duì)于球形度、圓形度、磨圓度、長(zhǎng)徑比、球度等行業(yè)的顆粒形貌參數(shù)的分析是其他顆粒測(cè)試設(shè)備所不具備的。值得一提的是，本產(chǎn)品軟...