Zeta電位及納米粒度分析儀 返回列表頁

Zeta電位及納米粒度分析儀

技術(shù)參數(shù)：

粒度分析范圍: 0.3nm-10µm

重現(xiàn)性：誤差≤1%

濃度范圍：ppb-40%

檢測角度：180°

分析時間：30-120秒

準(zhǔn)確性：全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子

測量精度: 無需預(yù)選，依據(jù)實際測量結(jié)果，自動生成單峰/多峰分布結(jié)果

理論設(shè)計溫度：0-90℃，可以進行程序升溫或降溫

兼容性：兼容任何有機溶劑及大多數(shù)酸性或堿性溶液 

測量原理：

粒度測量：動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理分子量測量：水力直徑或德拜曲線技術(shù)：膜電極，微電場電勢測量，“Y"型光纖探針設(shè)計，異相多普勒頻移，可控參比方法，快速傅立葉轉(zhuǎn)換算法，非球形顆粒校正因子

光學(xué)系統(tǒng)：

3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器，通過梯度步進光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號，無需校正光路 

軟件系統(tǒng)：

先進的Microtrac FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形，數(shù)據(jù)輸出/輸入，個性化輸出報告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù)，Microsoft Access格式（OLE）等。體積，數(shù)量，面積及光強分布，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護，電子簽名和授權(quán)等。

外部環(huán)境：

電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz環(huán)境要求：溫度，10-40°C相對濕度：小于95%

 配置：

有內(nèi)置和外置光纖測量探頭可選

Zeta電位及納米粒度分析儀

主要特點：﹡采用的動態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法﹡的“Y"型光纖光路系統(tǒng)，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場，測量同一體系的Zeta電位， 避免樣品交叉污染與濃度變化。﹡的異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性。﹡的可控參比方法（CRM），能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。﹡超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。﹡的快速傅利葉變換算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間。﹡膜電極設(shè)計，避免產(chǎn)生熱效應(yīng)，能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度。﹡無需比色皿，毛細(xì)管電泳池或外加電極池，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果﹡消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。