顆粒電位滴定及粒度分析儀通過使用stabino，可實(shí)現(xiàn)快速便捷的顆粒的電位滴定測(cè)試。分散體中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因，故帶...

噴霧顆粒分析監(jiān)測(cè)儀德國AOM系統(tǒng)公司名稱來源于“AdvanceOpticalMeasurementSystems“，即先進(jìn)的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，AOM公司作為噴霧監(jiān)測(cè)...

顆粒3D動(dòng)態(tài)圖像分析儀原理：從頻閃光源發(fā)出的頻閃光，經(jīng)過光束擴(kuò)束器，得到平行的頻閃光，在測(cè)試區(qū)域頻閃光照射在分散好的單個(gè)顆粒上，經(jīng)過擁有專業(yè)的光學(xué)成像系統(tǒng)，得到...

噴霧粒度分析儀Microtrac Inc.是世界上著名的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，其先進(jìn)的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，...

膠成像一體機(jī)VILBER E-BOX CX5相機(jī)*1.1 相機(jī)分辨率：500萬真實(shí)像素，可擴(kuò)展至760萬像素1.2 灰階：16bit 65536灰階*1.3 靈...

化學(xué)發(fā)光生物發(fā)光熒光成像及活體成像儀產(chǎn)品的詳細(xì)描述：1.1英寸CCD芯片世界zui大，420萬有效像素，16bit灰階，保證了無以倫比的分辨率和靈敏度，真正意義...

Zeta電位及納米粒度分析儀納米粒度測(cè)量——?jiǎng)討B(tài)光背散射技術(shù)隨著顆粒粒徑的減小，例如分子級(jí)別的大小，顆粒對(duì)光的散射效率急劇降低，使得經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢...

顆粒在線干法動(dòng)態(tài)圖像分析儀顆粒形貌的分析：對(duì)于球形度、圓形度、磨圓度、長(zhǎng)徑比、球度等行業(yè)的顆粒形貌參數(shù)的分析是其他顆粒測(cè)試設(shè)備所不具備的。值得一提的是，本產(chǎn)品軟...

腐蝕性氣體檢測(cè)儀在線防爆氣相色譜儀在鉆井現(xiàn)場(chǎng)，氣體的硫含量越高，腐蝕性越強(qiáng)，可能導(dǎo)致設(shè)備的損害及人員的傷亡。高濃度硫化氫是劇毒強(qiáng)腐蝕性氣體，讓很多檢測(cè)工具望而卻...

低本底液閃計(jì)數(shù)儀（液閃儀）Aloka公司開發(fā)的新一代液體閃爍測(cè)量?jī)x，也是日立Aloka公司第十五代液閃儀。在日本，日立Aloka的液閃系列長(zhǎng)期以來一直被日本文部...