詳細(xì)摘要： 離子研磨儀 IM4000II

詳細(xì)摘要： 牛津儀器X-MaxTEM大面積硅漂移探測器

詳細(xì)摘要： 超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU8600系列

詳細(xì)摘要： 超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8700

詳細(xì)摘要： 牛津儀器Ultim Extreme無窗超級能譜

詳細(xì)摘要： 牛津儀器Xplore能譜探測器

詳細(xì)摘要： 專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，...

詳細(xì)摘要： 以創(chuàng)新的操作性，滿足廣泛領(lǐng)域的需求。新一代TEM"RuliTEM"誕生。"RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度透鏡，實現(xiàn)大視野、高對比...

詳細(xì)摘要： 200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能。通過單極片實現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。透射電...

詳細(xì)摘要： 該導(dǎo)航系統(tǒng)可以將CAD數(shù)據(jù)的布線和大規(guī)模集成電路的設(shè)計圖形和FIB的觀察圖像相對應(yīng)起來。當(dāng)CAD系統(tǒng)中的坐標(biāo)位置，樣品臺就會通過鏈接移動到相應(yīng)位置，就可以獲得相...

詳細(xì)摘要： 微型采樣方法(已在日本和美國取得zhuanli)已在半導(dǎo)體器件分析領(lǐng)域成為一款工具，它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時左右即可獲得一個微小樣品，以便于STE...

詳細(xì)摘要： MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統(tǒng)：新型電子光學(xué)系統(tǒng)，可達(dá)到高水準(zhǔn)的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質(zhì)...

詳細(xì)摘要： 在設(shè)備及高性能納米材料的評價和分析領(lǐng)域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。近來，目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。日立高新公司，整合了高...

詳細(xì)摘要： 通過自動重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。采用的鏡筒布局，從材料、設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍內(nèi)實...

詳細(xì)摘要： “Ethos"采用日立高新的核心技術(shù)--的高亮度冷場發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復(fù)合透鏡，不但可以在低加速電壓下實現(xiàn)高分辨觀察，還可以在FIB加工時實現(xiàn)實時觀察。S...

詳細(xì)摘要： AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達(dá)臺的全自動型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對中，測試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)...

詳細(xì)摘要： AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測量。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度...

詳細(xì)摘要： AFM5100N除了激光檢測方式之外，全新的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。

詳細(xì)摘要： AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標(biāo)用戶界面，標(biāo)準(zhǔn)配備參數(shù)自動設(shè)置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學(xué)者或者遇到全新的樣品時，也...

詳細(xì)摘要： 納米尺度3D光學(xué)干涉測量系統(tǒng)VS1800應(yīng)用光干涉現(xiàn)象，對微細(xì)的表面形貌進(jìn)行測量，可實現(xiàn)高性能薄膜、半導(dǎo)體、汽車零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測量。而且還能...