不同視角 SEM 表征與數(shù)據(jù)分析—飛納電鏡 MAPS 開啟科學(xué)新視界

飛納電鏡持續(xù)創(chuàng)新  系列一

01

“你這個(gè)位置是哪里拍的？其他位置什么情況？整個(gè)樣品上裂紋的走勢(shì)是什么樣的？”

作為失效工程師，收到老板或同事的靈魂拷問，是不是常常讓你頭疼？

02

“你這個(gè)太局部了，不具有代表性，其他位置什么情況？”

明明是供應(yīng)商產(chǎn)品的問題，但強(qiáng)勢(shì)的甲方的詭辯總讓你無奈不已？

03

“小張，我要整個(gè)組織切片的全貌，請(qǐng)確保拍下來。”

導(dǎo)師的要求太天真，臣妾做不到？

別擔(dān)心，飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)幫你解決這些問題！

2024 年，飛納發(fā)布數(shù)據(jù)采集及閱讀系統(tǒng) Phenom MAPS。該系統(tǒng)不僅改變了數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的方式，還為 SEM 表征與數(shù)據(jù)分析開啟了“上帝視角”，幫您輕松掌握每一個(gè)細(xì)節(jié)，不再需要費(fèi)力解釋。

今天，我們來詳細(xì)了解一下這款為科學(xué)家們提供“上帝視角”的飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)。

No。1 ：多圖層數(shù)據(jù)采集及閱讀系統(tǒng)

“人如其名”，MAPS 是地圖的意思，該系統(tǒng)會(huì)像地圖一樣，通過層級(jí)的方式，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的拍攝與數(shù)據(jù)回看。Phenom MAPS 提供的是一個(gè)涵蓋所有樣品信息的數(shù)碼存檔，從全面（宏觀）到具體（微觀）無所不包，改變了傳統(tǒng)掃描電鏡的分析與數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模式。并且，多圖層數(shù)據(jù)可以包含能譜。

No.2 ：大面積成像拼接，wan全無痕！

大面積成像拼接，萬全無痕

No.3：大面積能譜分析，地質(zhì)行業(yè)zui愛！

這里是一個(gè)地質(zhì)樣品的能譜拼圖結(jié)果，Phenom MAPS 可以實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)樣品的能譜采集，導(dǎo)出任意拼接的原始能譜數(shù)據(jù)，以方便進(jìn)行離線分析。

No.4 ：CISA，關(guān)聯(lián)一切可視化圖片

光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關(guān)聯(lián)。下圖案例：通過 MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結(jié)合，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

通過結(jié)合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學(xué)信息與顯微鏡提供的高分辨率結(jié)構(gòu)信息融合。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。

總結(jié)

飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)不僅是一個(gè)自動(dòng)化的圖像、能譜采集工具，更是一個(gè)數(shù)碼存檔和關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)分析平臺(tái)。通過地圖化的多層級(jí)掃描電鏡和能譜數(shù)據(jù)采集及關(guān)聯(lián)系統(tǒng)，為您提供多模態(tài)的“上帝視角”，全面掌握顯微鏡數(shù)據(jù)，不再錯(cuò)過任何細(xì)節(jié)。

“

下期預(yù)告

新品發(fā)布會(huì)直播預(yù)告

飛納電鏡將在第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議，重磅發(fā)布新產(chǎn)品以及應(yīng)用案例！

iCEM 2024

“第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議（iCEM 2024）”結(jié)合目前電子顯微學(xué)主要儀器技術(shù)及應(yīng)用熱點(diǎn)，邀請(qǐng)業(yè)界電子顯微學(xué)專家、電子顯微學(xué)儀器技術(shù)專家、電子顯微學(xué)應(yīng)用專家等，重點(diǎn)邀請(qǐng)近來有重要工作成果進(jìn)展的優(yōu)秀青年學(xué)者代表線上分享精彩報(bào)告。

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司應(yīng)用專家張傳杰將帶來主題【新品發(fā)布：飛納臺(tái)式掃描電鏡的技術(shù)突破及全新智能型離子研磨制樣平臺(tái)介紹】報(bào)告時(shí)間：6 月 26 日 10:30-11:00，歡迎大家報(bào)名預(yù)約觀看。